高功能化學(xué)產(chǎn)品的研發(fā)，包括粘合

結(jié)構(gòu)分析和成分分析

EPMA（電子探針微分析儀）

一種場致發(fā)射型的EPMA（電子探針微量分析儀），SEM使用模式中，反射電子像觀察，元素分析和與5CH WDS化學(xué)位移（掃描電子顯微鏡）二次電子圖像（波長色散X-射線光譜儀）可以進(jìn)行使用EDS（能量色散X射線光譜法）的測量，元素分析，陰極發(fā)光測量，組合這些的組成映射。它用于分析界面狀態(tài)和工件的失效分析。

SEM（掃描電子顯微鏡）

盡管在發(fā)展的領(lǐng)域中進(jìn)行主要是利用EPMA分析，在該領(lǐng)域，如質(zhì)量保證我們諸如通過執(zhí)行利用SEM的組成分析的接受原料質(zhì)量確認(rèn)。

ToF - SIMS（飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀）

通過濺射分析醉外表面上的組分

存在于樣品醉外表面上的分子和用于測量其分布的裝置。

通過照射離子束的濺射顯影取出的樣品的醉外表面的成分在以與質(zhì)量相對應(yīng)的速度在設(shè)備中飛行后被引入檢測器。

從檢測到的時(shí)間開始，在儀器中以與質(zhì)量相對應(yīng)的速度飛行后，將成分引入檢測器。從檢測到的時(shí)間開始，可以通過掃描離子束獲得成分的分子信息（質(zhì)譜）和映射圖像（分布）。我們主要用它來分析客戶的設(shè)備。