新技術(shù)介紹Megger有關(guān)線路診斷測(cè)試1-500 Hz窄帶介電頻率響應(yīng)

大約25年來(lái)，介電頻率響應(yīng)（DFR）已被研究并證明可以提供確定紙張+油電力變壓器和套管的濕度條件的準(zhǔn)確方法。與一般的絕緣測(cè)試一起，DFR提供了被測(cè)變壓器的增強(qiáng)絕緣條件。

DFR測(cè)試方法現(xiàn)已在國(guó)際上得到認(rèn)可 - 通過(guò)將其納入CIGRE TB445作為水分測(cè)定的可接受方法得到證明。IEEE目前正在完成在工廠和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的變壓器濕度評(píng)估中使用DFR的新指南，該指南應(yīng)在2019年完成并提供。儀器如Megger IDAX300，這是頭個(gè)可以執(zhí)行的商用單元這項(xiàng)測(cè)試，是測(cè)定水分含量的重要工具。

IDAX300具有在1至500Hz頻率下執(zhí)行PF測(cè)試的能力，可以定義為窄頻帶介電頻率響應(yīng)測(cè)試。我們現(xiàn)在能夠提供更短持續(xù)時(shí)間的DFR測(cè)試，它為我們提供了有關(guān)變壓器或套管的整體絕緣狀況的更多信息。

本文闡述了在位于泰國(guó)的變壓器（EGAT（電力公用事業(yè)））上進(jìn)行的窄帶DFR測(cè)試，并記錄了結(jié)果。事實(shí)證明，窄帶DFR測(cè)試可以為任何未來(lái)的測(cè)試比較提供基線。我們可以使用曲線形狀和/或趨勢(shì)變化來(lái)尋找問(wèn)題。我們不再需要僅依靠線路頻率PF（DF）來(lái)檢測(cè)未來(lái)的問(wèn)題。

大約25年來(lái)，介電頻率響應(yīng)（DFR）已被研究并證明可以提供確定紙張+油電力變壓器和套管的濕度條件的準(zhǔn)確方法。與一般的絕緣測(cè)試一起，DFR提供了被測(cè)變壓器的增強(qiáng)絕緣條件。

DFR測(cè)試方法現(xiàn)已在國(guó)際上得到認(rèn)可 - 通過(guò)將其納入CIGRE TB445作為水分測(cè)定的可接受方法得到證明。IEEE目前正在完成在工廠和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的變壓器濕度評(píng)估中使用DFR的新指南，該指南應(yīng)在2019年完成并提供。儀器如Megger IDAX300，這是頭個(gè)可以執(zhí)行的商用單元這項(xiàng)測(cè)試，是測(cè)定水分含量的重要工具。

IDAX300具有在1至500Hz頻率下執(zhí)行PF測(cè)試的能力，可以定義為窄頻帶介電頻率響應(yīng)測(cè)試。我們現(xiàn)在能夠提供更短持續(xù)時(shí)間的DFR測(cè)試，它為我們提供了有關(guān)變壓器或套管的整體絕緣狀況的更多信息。

本文闡述了在位于泰國(guó)的變壓器（EGAT（電力公用事業(yè)））上進(jìn)行的窄帶DFR測(cè)試，并記錄了結(jié)果。事實(shí)證明，窄帶DFR測(cè)試可以為任何未來(lái)的測(cè)試比較提供基線。我們可以使用曲線形狀和/或趨勢(shì)變化來(lái)尋找問(wèn)題。我們不再需要僅依靠線路頻率PF（DF）來(lái)檢測(cè)未來(lái)的問(wèn)題。

大約25年來(lái)，介電頻率響應(yīng)（DFR）已被研究并證明可以提供確定紙張+油電力變壓器和套管的濕度條件的準(zhǔn)確方法。與一般的絕緣測(cè)試一起，DFR提供了被測(cè)變壓器的增強(qiáng)絕緣條件。

DFR測(cè)試方法現(xiàn)已在國(guó)際上得到認(rèn)可 - 通過(guò)將其納入CIGRE TB445作為水分測(cè)定的可接受方法得到證明。IEEE目前正在完成在工廠和現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的變壓器濕度評(píng)估中使用DFR的新指南，該指南應(yīng)在2019年完成并提供。儀器如Megger IDAX300，這是頭個(gè)可以執(zhí)行的商用單元這項(xiàng)測(cè)試，是測(cè)定水分含量的重要工具。

IDAX300具有在1至500Hz頻率下執(zhí)行PF測(cè)試的能力，可以定義為窄頻帶介電頻率響應(yīng)測(cè)試。我們現(xiàn)在能夠提供更短持續(xù)時(shí)間的DFR測(cè)試，它為我們提供了有關(guān)變壓器或套管的整體絕緣狀況的更多信息。

本文闡述了在位于泰國(guó)的變壓器（EGAT（電力公用事業(yè)））上進(jìn)行的窄帶DFR測(cè)試，并記錄了結(jié)果。事實(shí)證明，窄帶DFR測(cè)試可以為任何未來(lái)的測(cè)試比較提供基線。我們可以使用曲線形狀和/或趨勢(shì)變化來(lái)尋找問(wèn)題。我們不再需要僅依靠線路頻率PF（DF）來(lái)檢測(cè)未來(lái)的問(wèn)題。